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簡(jiǎn)要描述:電鍍產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)儀其他功能- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境- 獨(dú)立操作控制平臺(tái)- 視頻參數(shù)調(diào)整- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接- Multi-Ray自動(dòng)輸出檢測(cè)報(bào)告(HTML、Excel、PDF)- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......- 數(shù)據(jù)庫檢查程序- 鍍層厚度測(cè)量程序保護(hù)。
產(chǎn)品分類
Product classification詳細(xì)介紹
電鍍產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)儀
產(chǎn)品概述
產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱:鍍層厚度分析儀
型號(hào):iEDX-150T
原產(chǎn)商:韓國(guó)ISP公司
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及特征
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1.鍍層檢測(cè),檢測(cè)層數(shù)范圍1-5層;鍍層測(cè)量精度可達(dá)0.001μm。
2.全自動(dòng)操作平臺(tái),平臺(tái)尺寸80X2*75X2*90(X*Y*Z);
3.激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能;
4.檢測(cè)的樣品可以為固體、液體或粉末;
5.運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低;
6.可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性、半定量分析;
7.操作簡(jiǎn)單、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速檢測(cè)(5-40秒依配置而定);
8.頂級(jí)配置:SDD探測(cè)器、超長(zhǎng)壽命X射線管、SPELLMAN高壓電源,儀器使用壽命長(zhǎng)。
9.超高分辨率:125±5電子伏特(電子伏特越低分辨率越高,檢測(cè)越精準(zhǔn),這是能譜儀一個(gè)非常關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo));
10.可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件;
11.軟件升級(jí);
12.無損檢測(cè),一次性購(gòu)買標(biāo)樣可使用;
13.使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以內(nèi),提供保姆式服務(wù);
14.具有遠(yuǎn)程服務(wù)功能,在客戶請(qǐng)求的情況下,可遠(yuǎn)程進(jìn)行儀器維護(hù);
(二)產(chǎn)品特征
1.高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
2.計(jì)算機(jī)/MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)
3.MultiRay.運(yùn)用基本參數(shù)法(FP)軟件,對(duì)樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析,可對(duì)鍍液進(jìn)行定量分析。
MTFFP(多層薄膜基本參數(shù)法)模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析
勵(lì)磁模式50987.1DIN/ISO3497-A1
吸收模式50987.1DIN/ISO3497-A2
線性模式進(jìn)行薄膜鍍層厚度測(cè)量
相對(duì)(比)模式無焦點(diǎn)測(cè)量DIN50987.3.3/ISO3497
多鍍層厚度同時(shí)測(cè)量
單鍍層應(yīng)用[如:Cu/ABS等]
雙鍍層應(yīng)用[如:Ag/Pd/Zn,Au/Ni/Cu等]
三鍍層應(yīng)用[如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應(yīng)用[如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應(yīng)[如:Ni-Zn/FeSn-Ni/ABSPd-Ni/Cu/ABS等]
4.Multi-Ray.快速、簡(jiǎn)單的定性分析的軟件模塊??赏瑫r(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。
Multi-Ray金屬行業(yè)精確定量分析軟件??赏瑫r(shí)分析8種元素。最小二乘法計(jì)算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計(jì)算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)±0.02%,貴金屬(8-24Karat)分析精度可達(dá)±0.05kt
Multi-Ray.對(duì)鍍液進(jìn)行分析。采用不同的數(shù)學(xué)計(jì)算方法對(duì)鍍液中的金屬離子進(jìn)行測(cè)定。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。
5.Multi-RayWINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
6.完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值、標(biāo)準(zhǔn)差、低/高讀數(shù),趨勢(shì)線,Cp和Cpk因素等
8.自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動(dòng)樣品測(cè)量,自動(dòng)多點(diǎn)分析。每個(gè)階段的文件有最多25個(gè)不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個(gè)階段文件包含*統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動(dòng)對(duì)焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。
技術(shù)指標(biāo)
多鍍層分析,1~5層;
測(cè)試精度:0.001μm;
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);
測(cè)量時(shí)間:10~30秒;
SDD探測(cè)器,能量分辨率為125±5eV;
探測(cè)器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);
6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換;
XYZ三維移動(dòng)平臺(tái),MAX荷載為5公斤;
高清CCD攝像頭(200萬像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置;
多變量非線性去卷積曲線擬合;
高性能FP/MLSQ分析;
儀器尺寸:618×525×490mm;
樣品臺(tái)尺寸:250×220mm;
樣品臺(tái)移動(dòng)范圍:前后左右各80mm、高度90mm。
1)、硬件參數(shù):
1.X射線管:高穩(wěn)定性X射線管,使用壽命(工作時(shí)間>8,000小時(shí))
微焦點(diǎn)x射線管
鈹窗口,光斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和管流設(shè)定為應(yīng)用程序提供最佳性能。
2.探測(cè)器:Si-Pin探測(cè)器
能量分辨率:149±5eV
3.濾光片/可選
初級(jí)濾光片:Al濾光片,自動(dòng)切換
多準(zhǔn)直器:0.2,0.3,0.5mm可選
測(cè)試點(diǎn)大小:準(zhǔn)直器面積的1.5倍
4.平臺(tái):軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動(dòng)X-Y-Z軸移動(dòng)大樣品平臺(tái)。
激光定位、簡(jiǎn)易荷載最大負(fù)載量為5公斤
軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動(dòng)測(cè)量
5.樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能
6.分析譜線:
-2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
-基點(diǎn)改正(基線本底校正)
-密度校正
-Multi-Ray軟件包含元素ROI及測(cè)量讀數(shù)自動(dòng)顯示
7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
-觀察范圍:3mmx3mm
-放大倍數(shù):40X
-射線方向:上照式
-軟件控制取得高真圖像
8.檢測(cè)厚度(正常指標(biāo)):
-原子序數(shù)22-24:6~1000微英寸
-原子序數(shù)25-40:4~1200微英寸
-原子序數(shù)41-51:6~3000微英寸
-原子序數(shù)52-82:2~500微英寸
9.計(jì)算機(jī)、打印機(jī)(贈(zèng)送)
1)含計(jì)算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo)
2)含Windows7操作系統(tǒng)
3)Multi-Ray軟件
注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓電源,需另計(jì)。
2)、光譜儀軟件功能
1)軟件應(yīng)用
單鍍層測(cè)量
線性層測(cè)量,如:薄膜測(cè)量
雙鍍層測(cè)量
針對(duì)合金可同時(shí)進(jìn)行鍍層厚度和元素分析
三鍍層測(cè)量。
無電鍍鎳測(cè)量
電鍍?nèi)芤簻y(cè)量
吸收模式的應(yīng)用DIN50987.1/ISO3497-A2
-勵(lì)磁模式的應(yīng)用DIN50987.1/ISO3497-A1
基本參數(shù)法目前是鍍層領(lǐng)域最佳解決方案。
2)軟件標(biāo)定方法
自動(dòng)標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析
-使用無標(biāo)樣基本參數(shù)計(jì)算方法
-使用標(biāo)樣進(jìn)行多點(diǎn)重復(fù)標(biāo)定
-標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動(dòng)調(diào)整功能
3)軟件校正功能:
-基點(diǎn)校正(基線本底校正)
-多材料基點(diǎn)校正,如:不銹鋼,黃銅,青銅等
-密度校正
4)軟件測(cè)量功能:
-快速開始測(cè)量
-快速測(cè)量過程
-自動(dòng)測(cè)量條件設(shè)定(光管電流,濾光片,ROI)
5)自動(dòng)測(cè)量功能(軟件平臺(tái))
-同模式重復(fù)功能(可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動(dòng)檢測(cè))
-確認(rèn)測(cè)量位置(具有圖形顯示功能)
-測(cè)量開始點(diǎn)設(shè)定功能(每個(gè)文件中存儲(chǔ)原始數(shù)據(jù))
-測(cè)量開始點(diǎn)存儲(chǔ)功能、打印數(shù)據(jù)
-旋轉(zhuǎn)校正功能
-TSP應(yīng)用
-行掃描及格柵功能
6)光譜測(cè)量功能
-定性分析功能(KLM標(biāo)記方法)
-每個(gè)能量/通道元素ROI光標(biāo)
-光譜文件下載、刪除、保存、比較功能
-光譜比較顯示功能:兩級(jí)顯示/疊加顯示/減法
-標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能(強(qiáng)度、能量)
7)數(shù)據(jù)處理功能
-監(jiān)測(cè)統(tǒng)計(jì)值:平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值。
-最小值、測(cè)量范圍,N編號(hào)、Cp、Cpk,
-獨(dú)立曲線顯示測(cè)量結(jié)果。
-自動(dòng)優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件
8)其他功能
-系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
-獨(dú)立操作控制平臺(tái)
-視頻參數(shù)調(diào)整
-儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接
-Multi-Ray自動(dòng)輸出檢測(cè)報(bào)告(HTML、Excel、PDF)
-屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......
-數(shù)據(jù)庫檢查程序
-鍍層厚度測(cè)量程序保護(hù)。
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